专为X射线衍射分析仪设计的原位装置,精准掌控材料在变温、力学加载等多场耦合条件下的实时响应,可精准适配布鲁克、赛默飞、理学、岛津等主流XRD设备。
果果仪器XH1200温度范围RT~1200°C,温度稳定性土0.1°C,能实现定点、斜率、程序段多模式精准控温。
载样台反射/透射可选;圆弧形窗口设计,衍射角2θ:∠0°~∠164°,采用Kapton膜作为视窗;
可定制支架 ,适配各种型号X射线衍射仪,如理学、布鲁克、赛默飞、岛津、帕纳科等。
• 温度范围:RT~1200℃
• 温度稳定性:±0.1℃
• 衍射角2θ: ∠0°~∠164°
• 视窗材质:Kapton膜