介电温谱/频谱测试系统用于研究材料（如块体、薄膜等）的介电性能（介电常数、损耗因子等）随温度（温谱）和频率（频谱）的变化规律。该系统核心组件包括LCR电桥、探针冷热台及专用测试软件，可精准测量并分析材料在不同温度和不同频率下的介电特性。可选配多通道切换器，实现最多8个样品同时测试，提高测试效率。
硬件配置：
1、电桥LCR（keysight、同惠、日置、稳科等各类品牌产品）
2、探针冷热台（CH600-190-P4等型号）
规格参数：
1、温度范围：-190~600℃ / RT~1000℃（选型）
2、温度稳定性：±0.1℃
3、冷热方式：液氮致冷，电阻加热
4、载样台材质：银质
5、载样台尺寸：23mm*23mm
6、腔体环境：气密/真空
7、探针材质及数量：紫铜镀金或钨钢镀金，4或8个（选型）
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